始终把客户放在第一位,为客户提供卓越服务体验
关注驿天诺最新消息,聚焦异质集成、CPO等前沿动态
拥有成熟量产级硅光封测系统集成及应用经验
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驿天诺凭借丰富的硅光封测经验及量产经验,率先开发出--功能全、精度高、速度快的超高效光电测试系统,兼容EC/GC测试,支持超快速找光及并行测试方案,为半导体行业实践出新的方案。驿天诺面向各界提供端到端晶圆测试服务及打样服务。
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方案特点
支持光栅以及端面耦合方式
晶圆尺寸最大支持12寸,向下兼容至2寸
DC测试、RF测试
支持单颗芯片级测试
温度范围:-40℃~125℃,可定制
不良芯片Ink标记
OO/OE/EE所有相关指标测试(IL/PDL/WDL/R/Split Ratio/Xtalk等)
兼容单模光纤、透镜光纤、多通道FAU、多通道光探针等
WLR以及其他研发验证
数据统计及分析
测试层面:驿天诺配备专业测试工程师,通过设计和执行专业的测试方案,验证硅光产品的性能、可靠性和稳定性,确保产品符合设计要求和技术标准,为测试结果的准确性和可靠性保驾护航。
运维层面:驿天诺能够提供灵活的测试服务,为客户节约设备成本和人力成本,根据客户需求调整测试计划和进度,避免不必要的资源浪费。
升级迭代:驿天诺具备端到端解决方案能力,随着产品的不断发展和升级,驿天诺可以根据新的需求和变化制定新的测试算法及方案。
方案详情
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