首页
产品中心
解决方案
服务支持
新闻中心
关于我们
联系我们
关于我们
公司简介
资质荣誉
加入我们
联系我们
在线留言
始终把客户放在第一位,为客户提供卓越服务体验
新闻中心
公司新闻
展会预告
行业动态
关注驿天诺最新消息,聚焦异质集成、CPO等前沿动态
产品中心
封测系统
仪器仪表及夹具
WI-6500AL
全自动晶圆缺陷检测系统
WIT-220AL
全自动晶圆光电测试系统
CA-6000AL
全自动芯片测试系统
CA-1000
FA自动耦合封装系统
CA-1000
全自动Lens耦合封装系统
LHX-302-COC
激光器可靠性与老化测试系统
WAT-226
高功率晶圆测试系统
ET-SMU系列
高精度电源模块
LCM 系列
激光器控制器
APD老化电源控制器
OSM-4200
四通道光源
LCM-HP200
多通道高压电源控制器
DFB蝶形耦合 封装激光器
LSM系列
夹具
LSM-HL系列
夹具
服务支持
定制服务
售后服务
常见问题
始终把客户放在第一位,为客户提供卓越服务体验
解决方案
Inline晶圆测试解决方案
端到端晶圆测试代工服务
高精度电源模块解决方案
四通道光源模块解决方案
拥有成熟量产级硅光封测系统集成及应用经验
EN
产品中心
您当前位置 :
首页
产品中心
晶圆测试系统
产品中心
晶圆测试系统
芯片测试系统
耦合封装系统
老化测试系统
仪器仪表及工具
光源相关
老化电源控制器及夹具
晶圆测试系统
WI-6500AL
全自动晶圆缺陷检测系统
Learn More >
WI-6500AL全自动晶圆缺陷检测系统由自动化上下料系统、视觉检测系统、控制软件等组成,支持25片晶圆的自动缺陷检测。该系统可检测晶圆盒中晶圆数量和位置,快速...
WIT-220AL
全自动晶圆光电测试系统
Learn More >
WIT-220AL全自动晶圆光电测试系统综合考虑稳定性、电噪声处理、空间布局等设计要求,采用精密运动控制系统,高性能隔振系统,结合自主研发图像软件算法,实现高稳...
WAT-226
高功率晶圆测试系统
Learn More >
WAT-226高功率晶圆测试系统采用密闭腔体形式,将运动构件、制热构件、制冷构件以及测试使用的晶圆卡盘、探针台、探针臂等部件集中在密闭腔体中,构建安全、稳定的功...
微信咨询
电话咨询
电话:
(+86) 027-87001679
div > li >
微信咨询
电话咨询
微信咨询
点击电话进行一键拨打
电话:
(+86) 027-87001679