在装备制造领域，追求更精准、更快速、更高效的脚步从未停歇。随着摩尔定律不断逼近物理极限，对核心测试设备——晶圆测试台的性能要求也已进入"原子级"时代。晶圆台在半导体及光子集成电路（PIC）制造中扮演着极其重要的角色。

硅光晶圆测试台是连接设计、制造与应用的枢纽，直接影响产品性能、可靠性和商业化进程。随着硅光技术向更小节点和更复杂集成方向发展，测试台的精度、速度和智能化水平将成为行业竞争的关键要素。

驿天诺全新高端硅光晶圆台系列——WIT-SP-220AL，完美契合市场对晶圆台超精度对准、超快速度测试和高灵活适配性等多维度要求。该产品在位置传感器精度、光纤校准速度、虚拟枢轴自由度三大核心技术上实现突破，为半导体制造提供更高效、更精准、更智能的解决方案。

新产品系列可快速处理大批量晶圆，缩短产品上市时间；同时具备更高的集成度，以满足多通道测试、三维堆叠芯片CPO、OIO前沿产品测试要求。

从2纳米的极致定位，到毫秒级超高速对准，驿天诺在测试领域持续进行自我突破，持续打磨完善每一个细节，不断探索晶圆测试台性能参数极限，助力客户大规模制造及新产品技术路线需求！