驿天诺-COC老化测试系统

随着AI算力驱动的结构性产业爆发，光芯片需求量激增，芯片级高通量可靠性筛选已成为行业刚需。驿天诺LHX-306-COC老化测试机台，是面向激光器芯片规模化量产场景，专为芯片老化筛选与性能测试工序打造全自动一体化高效产线设备。该系统集高密度多通道驱动、独立精准温控、在线功率监测与智能数据分析于一体，可覆盖各类激光器批量老化测试需求。

主机架配置

采用主框架和大单层结构设计，集成多通道驱动电源、温度控制器和实时数据采集功能，标准化的抽屉、定制化的老化夹具适用于不同尺寸的 COC。

单层配置

单层结构采用模块化设计，集成驱动电源板、标准化的抽屉、温度控制系统、直流电源。

六大优势，构建性能首选

1. 超高密度通道：单系统最高支持几千路源测量单元同步老化。整机集成多层老化单元、每层多个独立抽屉，高密度并行老化能力满足大批量同步测试需求；

2. 独立精准控温：各夹具搭载独立加热、控温、监控、超温保护及散热单元，分区域节能控温，避免整体控温的能耗浪费与温度不均；

3. 高精度驱动电源：搭载ACC自动电流控制模式，接触电阻波动时老化电流保持恒定，测试准确可靠；

4. 双重安全防护：驱动板采用硬件防护与软件管控协同机制，从源头消除EOS、过流、过压等风险。通讯断连一定时间内自动停止老化，异常停止后支持接续老化，适配全天候连续运行；

5. 在线监测与智能分析：支持外置PD电流采集，具备Ith阈值分析能力，测试重复性优于±1%。所有数据自动保存至数据库，支持历史追溯、快速查询与MES系统对接；

6. 老化完成后，抽屉可直接放置到测试台工位，进行阈值电流、光谱等进一步测试分析。

多场景应用