驿天诺-常高温激光器芯片测试台

随着光通信与激光雷达产业的快速发展，DFB/EML等激光器芯片的性能验证与量产筛选对测试设备提出了更高要求。武汉驿天诺科技有限公司常高温激光器芯片测试台，为激光器芯片提供高精度、高吞吐量、全流程自动化的测试解决方案。

常高温激光器芯片测试台是一款专为激光器芯片性能验证与批量筛选设计的高精度自动化测试系统。该系统集成了蓝膜ID识别、蓝膜环取料、芯片搬运、常高温测试、自动分拣下料等功能模块，采用双动子直线电机、高精度电动滑台与大理石平台，确保系统长期运行的稳定性与重复性，全面覆盖研发验证与批量筛选两大场景。

• 双温并行测试：双载台独立并行控温，稳定性±0.2℃，同时测两颗芯片，效率翻倍；

• 高精度光电收光：LIV用φ10大光敏面探测器，光谱用准直透镜，具备自动校准功能，确保功率与波长数据准确；

• 全自动上下料与分拣：顶针+双直线电机自动剥离裸Die，支持多个蓝膜按规则自动分拣；

• 视觉定位与自动扎针：全新智能多角度识别系统，配合高精度电动轴，实现位置快速矫正及自动扎针；

• 高精度大范围电学测量：LD电流0~1000mA（pulse:3000mA），电压0~15V（精度0.3%），可外接源表扩展；

• 实时显示：上位机实时呈现LIV曲线与光谱图；

• 自动调节：探针压力可调，吸嘴吸取压力可调；

• 全面设备保护机制：每路供电独立断路保护，可选UPS，配备安全联锁及EMO急停；

• 灵活兼容与扩展：兼容DC探针卡，自动读取芯片SN，提供二次开发接口，便于集成产线或定制流程。