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半导体激光二极管可靠性老化测试系统
LHX-302-COC激光器可靠性与老化测试系统
采用LHX-302-COC半导体激光器寿命和老化测试系统，可以减少测试成本，提高测试效率。系统包含40个可独立加温及加载电流的老化抽屉，最多可支持1280个器件的测试。您可以同时进行多个独立的测试，提高产量，降低成本。
产品描述
LHX-302-COC的系统设计非常弹性，允许您在一个系统测试多种不同的封装形式，只需更换不同的老化抽屉即可。系统支持ACC和LIV测试，每一个通道的电流典型值为200mA，可最大定制到2000mA输出。
Reliability Sys软件可以帮助您更加快捷的进行测试。您可以方便的配置多种器件类型和测试方式，软件自动分析、保存及导出测试结果，提供多种报错模式处理，不需要客户进行任何额外的编程，即使掉电也不会影响到数据的完整性。也可以将数据导入到csv文件中，通过其它软件分析。
产品特点
- 可同时老化最多达1280 个激光器
- 温度控制范围从40°C到150°C
- 电流以抽屉为单位输出
- 支持TO、蝶形、COC及定制封装
- 探针间距300µm（可支持定制至170µm）
- 电流范围可达到2000mA
- 电流模式：ACC、APC（定制）、LIV
- 热插拔，操作简便，数据管理安全可靠
- 模块化设计，便于扩展
老化电源
LIV测试系统
32通道COC夹具
300µm间距探针落点重复性测试
电流长时稳定性±0.25mA
基于我们多年的半导体激光器精密控制和测试技术，LHX-302-COC为您提供长时间稳定的老化和寿命测试系统，帮助您得到精确的测试结果，而且重复性好。
温控长时稳定性±2度
系统集成高稳定性温控模块，温度长时稳定性（＞48小时）±2度。
每一个抽屉可装载32个器件，测试可靠性高
为了帮助客户在高速通讯激光器市场取得领先，我们特别注重材料选择和夹具机械设计方面，以帮助客户以较低的成本得到高可靠性的老化系统。
多通道同步测试，可满足研发中的弹性需要
与老化配合使用的LIV-302测试系统，可以对抽屉内的32个器件同时进行LIV扫描，得到精确的测试数据。阈值计算重复精度可达3%以内。
系统参数 |
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系统容量 |
1280 |
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夹持类型 |
TO-Can, COC, 定制 |
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容量/夹具 |
32 |
温度控制 |
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温控范围（℃） |
40 ~ 150 |
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温控单元 |
单个夹具 |
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温控精度（℃） |
±2.0 |
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温控均匀度（℃） |
＜2 |
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温控稳定性（℃, >24h） |
±2 |
激光器控制 |
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输出极性 |
单极性 |
电流特性 |
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电流范围（mA） |
2 ~ 200 |
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电流设置精度（mA） |
0.5 |
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电流稳定性（mA, >24h） |
±0.25 |
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顺从电压（V） |
3.0，可根据需要定制更高电压 |
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控制模式 |
ACC, LIV |
测量功能 |
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| 激光器电流 | |
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电流测量分辨率（mA） |
0.1 |
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电流测量精度 |
1%RD+0.2%FS |
激光器电压 |
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电压范围（V） |
5 |
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电压测量精度（mV） |
1%RD+0.5%FS |
外部PD监测 |
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波长范围（nm） |
400 ~ 1600 |
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功率测量范围（mW） |
0 ~ 10 |
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长时稳定性(>24h) |
±0.18% of F.S. |
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测量模式 |
相对 |
测试夹具 |
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管脚定义 |
根据用户需求定制 |
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探针间距（um） |
300，最小可定制到170um |
系统控制计算机及监控软件 |
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计算机类型 |
工控机（嵌入机柜） |
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最低配置 |
2 GHz Dual Core CPU，8GB RAM，100GB HDD |
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UPS电池操作 |
＞30分钟 |
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电源 |
115/230 VAC，50/60 Hz，单相，6A |
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操作系统 |
Microsoft Windows® 7 or newer |
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监控软件 |
Reliability Sys |
一般特性 |
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尺寸（H×W×D）（m） |
2 x 1.3 x 0.9 |
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重量（kg） |
＜500 |
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电源 |
200 ~ 240 VAC，50/60 Hz，三相 |
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功率 |
＜15KW |
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