半导体激光二极管可靠性老化测试系统

半导体激光二极管可靠性老化测试系统

LHX-302-COC激光器可靠性与老化测试系统

LHX-302 是一款基于风冷、电加热的机架式老化平台,支持高密度、高可靠性的激光器寿命测试、老化测试和性能测试。

产品特点

LHX-302激光器可靠性与老化测试系统提供:

  • 可同时老化最多达1280 个激光器
  • 每通道最高2A的激光驱动电流
  • 灵活可靠的热插拔操作,容量扩展简单
  • 更换老化抽屉可支持不同封装的激光器老化
  • APC、ACC和LIV测试模式
  • 老化抽屉支持使用外部和/或内部光电二极管的测量
  • 集成Reliability Sys控制软件
  • 实时查看当前运行的通道状态及测试数据,可导出已保存的测试数据
  • 直观的图形界面,用于查看系统和测试状态
  • 停电和限电时仍可对已保存数据进行处理
  • 网络故障时,控制测量模块可自动保存至少5h 老化数据(以5 分钟/次计算)
老化电源
老化电源

LIV测试系统
LIV测试系统

32通道COC夹具
32通道COC夹具

300µm间距探针落点重复性测试
300µm间距探针落点重复性测试

系统
系统容量 up to 1280
封装类型 TO-Can, Butterfly, COC, Custom
每夹具工位 up to 32
温度控制
温度范围 +40 - +120 ℃
温度控制单位 单个抽屉
温度控制精度 ± 1.0℃
温度控制稳定性 ± 1.0℃
激光器控制
输出极性 独立并联输出,共阴极,定制 驱动电流
输出范围 200mA(典型值),可定制到2000mA
设置精度 ± 1% of FS
输出稳定性 ± 1% of FS
顺从电压 3.3V(典型值);可定制高压
控制模式 恒流,恒功率(定制),LIV测试
测量功能
激光器电压
范围 + 3.3V(典型值)
精度 ± 0.1V
内置PD偏转电压(定制) 0 - 8V
测量范围(定制) 20 - 5000 µA
稳定性(定制) ± 5 µA
前端面PD(LIV功能)
波长范围 400 - 1600nm
测量模式 相对变化值
Ith计算重复精度 ≤ 3%
通用特性
规格 (HxWxD) cm 200 x 130 x 84
电源需求 350-420 VAC, 50/60 Hz, 50A,三相
系统控制计算机及监控软件
计算机 奔腾4核处理器,4G内存,10G空闲磁盘空间
显示器 14 寸(分辨率:1024*768)
UPS备用电源 > 1h
操作系统 Microsoft Windows®
系统控制软件 Reliability Sys
程序代码 可执行程序

说明:

稳定性测量时间为48小时。


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LHX-302-COC激光器可靠性与老化测试系统

其它老化选型


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